期刊详情
Proceedings Of The Ieee Vlsi Test Symposium
立即访问
语言：
英文
所在数据库：
Ieee Computer Society
更新时间：
2026-04-06 20:48:12
期刊详情
Proceedings Of The Ieee Vlsi Test Symposium 《IEEE VLSI测试研讨会论文集》（VTS）是集成电路测试领域的顶级会议。该会议录发表测试生成、内建自测试（BIST）、缺陷分析及测试设备研究，内容涵盖逻辑测试、存储器测试、模拟测试及良率提升，代表了芯片测试技术的最高水平。