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Proceedings Of The European Test Workshop
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英文
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Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
更新时间：
2026-04-06 20:48:12
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Proceedings Of The European Test Workshop 《欧洲测试研讨会论文集》（ETW）发表集成电路测试、设计验证及测试方法学研究。内容涵盖测试生成、内建自测试（BIST）、边界扫描及模拟测试，致力于提升芯片制造的良率与可靠性。