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Proceedings Of The Asian Test Symposium
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英文
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Ieee Computer Society
更新时间：
2026-04-06 20:48:12
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Proceedings Of The Asian Test Symposium 《亚洲测试研讨会论文集》（ATS）发表集成电路测试、设计验证及可靠性研究。内容涵盖测试生成、内建自测试（BIST）、故障诊断及良率提升，致力于推动亚太地区在芯片测试领域的学术交流与技术进步。