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Proceedings - International Test Conference
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英文
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Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
更新时间：
2026-04-06 20:48:12
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Proceedings - International Test Conference 《国际测试会议论文集》（ITC）是电子测试与验证领域的顶级会议。该会议录发表集成电路测试、设计验证及测试设备的研究，内容涵盖自动测试设备（ATE）、内建自测试（BIST）、故障诊断、边界扫描及系统级测试，致力于解决芯片与电子系统制造中的质量与可靠性挑战。