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Proceedings - Ieee International Symposium On Defect And Fault Tolerance In Vlsi And Nanotechnology Systems, Dft
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Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
更新时间：
2026-04-06 20:48:11
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Proceedings - Ieee International Symposium On Defect And Fault Tolerance In Vlsi And Nanotechnology Systems, Dft 《IEEE VLSI与纳米技术系统缺陷与容错国际研讨会论文集》发表集成电路测试、容错设计及可靠性研究。内容涵盖缺陷检测、冗余设计、软错误缓解及老化分析，探讨在纳米尺度下保障芯片良率与长期可靠性的关键技术。