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Microelectronics Reliability
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英文
所在数据库：
Pergamon-Elsevier Science Ltd
更新时间：
2026-03-31 15:45:40
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Microelectronics Reliability 《微电子可靠性》发表电子器件与系统的可靠性物理、失效机理及寿命预测模型研究。内容涵盖电迁移、热疲劳、辐射效应及环境应力筛选，探讨提升航空航天、汽车电子及高可靠性电子产品寿命的技术策略，是可靠性工程领域的核心期刊。