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International Design And Test Workshop
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英文
所在数据库：
Ieee Computer Society
更新时间：
2026-03-25 11:51:55
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International Design and Test Workshop (IDT) 是集成电路设计与测试领域的专业研讨会，聚焦于芯片设计方法学、可测试性设计 (DFT)、故障模型及先进测试技术，应对纳米制程下的芯片验证挑战。