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Ieee Transactions On Device And Materials Reliability
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英文
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Ieee
更新时间：
2026-03-24 13:08:42
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Ieee Transactions On Device And Materials Reliability 由 IEEE Electron Devices Society 出版，是器件与材料可靠性领域的顶级期刊。它发表关于半导体器件、无源元件、封装材料及互连结构的失效物理、寿命预测及可靠性测试方法的深度研究。