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Ieee International Reliability Physics Symposium Proceedings
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英文
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Institute Of Electrical And Electronics Engineers Inc.
更新时间：
2026-03-19 14:35:54
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Ieee International Reliability Physics Symposium Proceedings (IRPS) 由 IEEE 出版，是半导体器件可靠性物理领域的顶级会议。它发表关于纳米尺度器件失效机理（如TDDB, HCI, NBTI）、新材料可靠性、3D封装可靠性及寿命预测模型的深度研究，是芯片可靠性研究的“风向标”。