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Ieee Design & Test
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英文
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Ieee
更新时间：
2026-03-19 14:35:54
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Ieee Design & Test (原 IEEE Design & Test of Computers) 由 IEEE Computer Society 出版，专注于电子系统设计、测试与验证。它发表关于芯片设计流程、可测性设计 (DFT)、硬件安全、嵌入式系统测试及 EDA 工具的教程与研究论文，服务于半导体与电子设计产业。