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Ieee Conference On Antenna Measurements And Applications, Cama
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英文
所在数据库：
Institute Of Electrical And Electronics Engineers
更新时间：
2026-03-19 14:35:54
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Ieee Conference On Antenna Measurements And Applications, Cama 由 IEEE 出版，专注于天线测量技术。它发表关于近场/远场测量方法、紧缩场技术、天线诊断、不确定性分析及标准天线校准的最新研究，服务于天线测试实验室与研发机构。